rifs技術(shù)用于分子間互作分析

反射干涉頻譜法 rifs （Reflectometric Interference Spectroscopy）是讓白光照射在具有光學(xué)厚度的薄膜上，光線在反射過程中會發(fā)生干涉，檢測樣品與膜上的分子結(jié)合后會使光學(xué)厚度發(fā)生改變，從而使反射光的波長發(fā)生相應(yīng)的改變，通過檢測反射光的峰位的改變情況，來反映分子間的相互作用情況。該方法可用于功能性高分子的評估等領(lǐng)域，同時還可對動態(tài)反應(yīng)進(jìn)行無標(biāo)記，實(shí)時觀測。